7. - 10. März 2023 Intec
ZEISS DotScan

Empfindliche, spiegelnde oder kontrastarme Flächen lassen sich zukünftig noch schneller als bisher mit dem Multisensor-Messgerät ZEISS O-INSPECT prüfen. ZEISS DotScan eignet sich besonders zur Erfassung von Freiformflächen und darüber hinaus auch für kleinste Strukturen. Mittel der Wahl sind chromatische Weißlichtsensoren und damit auch ZEISS DotScan aber auch dann, wenn empfindliche, weiche, spiegelnde oder kontrastarme Flächen Taster oder Kamerasensoren vor Herausforderungen stellen.

 

Der Sensor wird in drei Größen, das heißt für die Messbereiche ein, drei und zehn Millimeter erhältlich sein. Darüber hinaus können Anwender dank ZEISS DotScan jetzt auch beim optischen Scannen einen Drehtisch auf ZEISS O-INSPECT nutzen. Eine Möglichkeit, die der CFS Sensor bisher nicht bot. Die Messgeschwindigkeit des Sensors beträgt zwischen 100 bis 150 Millimeter pro Sekunde.

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